4/06/2018
Congrès RFIAP & CFPT 2018 à la Cité Descartes
Du 25 au 28 juin 2018, les associations AFRIF (Association Française pour la Reconnaissance et l'Interprétation des Formes), SFPT (Société Française de Photogrammétrie et de Télédétection) et le chapitre français de la société GRSS (Geoscience & Remote Sensing Society) de l'IEEE (Institut des ingénieurs électriciens et électroniciens) organisent conjointement sur le campus de la Cité Descartes leurs congrès. Les trois communautés ont de nombreuses thématiques en commun, les problématiques de reconstruction, de localisation, d'indexation et de reconnaissance d'objets en étant quelques exemples.
Cette colocalisation, organisée pour la première fois, sera l'occasion d'échanges fructueux entre elles. Le déroulement en parallèle des deux congrès permettra d'inscrire dans leurs programmes des conférences invitées plénières communes aux deux congrès, et contiendra des événements ou sessions sur des thèmes d'intérêt commun, qu'ils soient d'ordre applicatif ou d'ordre méthodologique. Le lundi 25 juin sera consacré à des tutoriaux. Les deux conférences se tiendront à partir du mardi 26 juin, sur trois jours pour le congrès Reconnaissance des Formes, Image, Apprentissage et Perception RFIAP (26-28 juin 2018), et sur deux jours pour la Conférence Française de Photogrammétrie et de Télédétection CFPT (26-27 juin 2018).
En partenariat avec le Labex Bézout et l'école doctorale Mathématiques et STIC (MSTIC) d'Université Paris-Est.
Orateurs invités
- Yann LECUN (Facebook)
- Maja PANTIC (Imperial College London)
- Alexandre ALAHI (EPFL Lausanne)
Informations pratiques
Dates : du lundi 25 au jeudi 28 juin 2018
Lieux :
Amphithéâtre de l'Espace Bienvenüe, Institut français des sciences et technologies des transports, de l’aménagement et des réseaux (Ifsttar)
Bâtiment Carnot, École des Ponts ParisTech / ENSG-Géomatique
Amphithéâtre Dassault, ESIEE Paris
Programme complet et inscription
